Содержание страницы
- 1. Основы и классификация оптико-механических приборов
- 2. Измерительные проекторы: принцип «Теневого театра»
- 3. Измерительные микроскопы: взгляд в микромир
- 4. Компараторы: метод сравнения с эталоном
- 5. Оптоэлектрические преобразователи: методы растра и муара
- 6. Лазерные интерферометры: эталон точности
- 7. Лазерные дальномеры: измерение больших расстояний
- 8. Сравнительная характеристика методов измерения
- 9. Преимущества и недостатки оптико-механических методов
- 10. Интересные факты об оптических измерениях
- 11. FAQ: Часто задаваемые вопросы
- Заключение
Оптико-механические средства измерений — это класс высокоточного оборудования, объединяющего механическую кинематику (перемещение столов, кареток) с оптическими системами отсчета. Их главная задача — бесконтактное или высокоточное измерение геометрических параметров деталей (длин, углов, радиусов, профилей).
1. Основы и классификация оптико-механических приборов
В современной метрологии, особенно в микроэлектронике и прецизионном машиностроении, невозможно обойтись штангенциркулем. Здесь на сцену выходят приборы, использующие законы геометрической оптики (линзы, призмы, зеркала) и волновой оптики (интерференция света).
Ключевое различие методов:
- Геометрическая оптика: Основа работы измерительных микроскопов и оптиметров. Использует увеличение изображения для точного позиционирования визирной линии.
- Интерференция: Используется в интерференционных микроскопах и лазерных системах. Основана на наложении когерентных световых волн для получения картины полос.
2. Измерительные проекторы: принцип «Теневого театра»
Измерительные проекторы (часто называемые теневыми графиками) — это «рабочие лошадки» контроля качества. Принцип их действия гениально прост и напоминает театр теней, только в роли актера выступает деталь, а в роли зрителя — метролог.
Прибор проецирует увеличенный теневой контур детали на матовый экран. Оператор сравнивает этот контур с эталонным чертежом, выполненным на прозрачной пленке в том же масштабе (например, 10х, 20х, 50х или 100х).
Особенности конструкции и эксплуатации:
- Размеры экранов: Варьируются от компактных 250×250 мм до крупногабаритных 600×700 мм, что позволяет контролировать крупные узлы.
- Механика стола: Стол проектора — это прецизионный механизм. Он перемещается по осям X, Y (продольно и поперечно) и Z (вертикально для фокусировки).
- Точность: Перемещение стола фиксируется шкалами с ценой деления от 0,01 до 0,002 мм. Суммарная погрешность измерения линейных размеров обычно находится в пределах \(\pm(0,003…0,005)\) мм, что достаточно для большинства задач машиностроения.

3. Измерительные микроскопы: взгляд в микромир
В отличие от биологических микроскопов, где цель — просто рассмотреть структуру, измерительные микроскопы (инструментальные) созданы для определения координат. Они незаменимы при измерении деталей сложной формы (резьбы, шаблоны, кулачки) в прямоугольной или полярной системе координат.
Типология:
- ММИ (Малый микроскоп инструментальный): Для небольших легких деталей.
- БМИ (Большой микроскоп инструментальный): Имеет больший диапазон измерений и более мощный стол.
- УИМ (Универсальный измерительный микроскоп): Самый точный и функциональный класс приборов.
Принципиальная схема работы едина для всех типов: это визирование (наведение перекрестия) на узловые точки детали. Деталь закрепляется на столе, который движется по двум взаимно перпендикулярным направлениям. Величина этого перемещения и есть измеряемый размер.

Рисунок 2. Малый микроскоп инструментальный измерительный.
Конструкция и методика измерений
Измерительный микроскоп состоит из жесткого основания, на котором закреплены меры длины (стеклянные шкалы или растровые датчики) вдоль осей. Измеряемое изделие устанавливается на подвижный стол. Визирный микроскоп неподвижен (или имеет ограниченную подвижность).
Процесс измерения:
- Ось микроскопа (перекрестие штрихов в окуляре) совмещается с краем детали или риской.
- Снимается начальный отсчет.
- Стол перемещается до совмещения перекрестия со вторым краем детали.
- Снимается конечный отсчет. Разность показаний равна длине.
Современные системы позволяют «обнулять» показания в начальной точке, чтобы сразу видеть на табло конечный размер.
4. Компараторы: метод сравнения с эталоном
Компаратор — это устройство, которое не измеряет «с нуля», а сравнивает неизвестный размер с известным эталоном. Это позволяет достичь высочайшей точности за счет малого диапазона измерений.

Рисунок 3. Схема компаратора
Принципиальная оптико-механическая схема сравнения длин
На рисунке 3 представлена классическая схема продольного компаратора, использующая два измерительных микроскопа. Давайте разберем её работу детально, следуя нумерации элементов:
Система работает методом дифференциального измерения. У нас есть рабочий эталон 1 известной длины \(l_1\) (например, концевая мера длины) и объект контроля 2, длину которого \(l_2 = l_1 + \Delta l\) нам нужно найти.
- Настройка базы: В исходном состоянии прибор настраивается так, чтобы в перекрестье окуляров левого микроскопа 3 и правого микроскопа 4 попадали исходные точки мер.
- Позиционирование: Смещением измерительного стола добиваются того, чтобы конечная точка рабочего эталона 1 попала точно в перекрестье левого микроскопа 3. Это фиксирует базовое положение.
- Измерение отклонения: Скорее всего, конечная точка объекта контроля 2 не совпадет идеально с перекрестьем правого микроскопа 4 из-за разницы длин \(\Delta l\).
- Снятие отсчета: Вращением микрометрического винта 5 внутри окуляра правого микроскопа 4 оператор смещает перекрестие (или оптическую марку) до тех пор, пока оно не совпадет с краем объекта контроля 2.
- Результат: Значение, считанное с барабана микрометрического винта 5, и есть искомая разница \(\Delta l\).
5. Оптоэлектрические преобразователи: методы растра и муара
Когда требуется автоматизировать измерения и передать данные в компьютер, используются оптоэлектрические методы. Они преобразуют перемещение в электрический сигнал. Вершиной этой технологии являются растровые и муаровые методы.

Рисунок 4. Растровый (а) и муаровый (б) преобразователь перемещений
Визуализация эффекта оптической редукции
Метод растра (нониусное сопряжение)
Представьте две стеклянные пластины с нанесенными штрихами (решетки). На рисунке 4а показан принцип, где шаг штрихов на пластинах незначительно отличается (как в штангенциркуле с нониусом). Обозначим шаг одной пластины как \(a\), а второй как \(b\).
При наложении пластин и просвечивании возникают периодические зоны света и тени (зоны сгущения). Малейшее перемещение \(x\) одной пластины вызывает гигантское перемещение \(y\) зоны сгущения. Это явление называется оптической редукцией. Математическая зависимость выражается формулой:
(В исходном тексте формула была искажена, приведена исправленная физическая формула для случая нониусного сопряжения). Коэффициент усиления здесь огромен, что позволяет детектировать микронные смещения.
Метод муара (Муаровые полосы)
На рисунке 4б показан более распространенный метод. Здесь шаги решеток одинаковы, но одна пластина наклонена относительно другой на малый угол \(\alpha\). При наложении образуются широкие полосы, идущие поперек штрихов — муаровые полосы.
При движении решетки «штакетник» муаровых полос бежит вверх или вниз. Связь между реальным перемещением \(x\) и смещением полосы \(y\) определяется формулой:
Так как \(\sin(\alpha)\) для малых углов очень мал, коэффициент \(1/\sin(\alpha)\) становится огромным множителем, обеспечивая высокую чувствительность.
6. Лазерные интерферометры: эталон точности
Для измерения перемещений в широком диапазоне (от нанометров до метров) используются лазерные интерферометры. Это «золотой стандарт» в калибровке станков с ЧПУ.

Рисунок 5. Лазерный интерферометр
Схема интерференции световых потоков (Интерферометр Майкельсона)
Принцип действия основан на явлении интерференции — сложении двух когерентных световых волн. Рассмотрим устройство, показанное на рисунке 3:
- Источник когерентного света (лазер) излучает поток Ф.
- Поток попадает на светоделитель (полупрозрачное зеркало) 2, где расщепляется на два канала: опорный Ф1 и измерительный Ф2.
- Опорный канал: Поток Ф1 отражается вверх, попадает на неподвижное зеркало 3 и возвращается обратно в фотоприемник 1. Его оптический путь постоянен.
- Измерительный канал: Поток Ф2 проходит сквозь зеркало 2, доходит до подвижного отражателя (объекта) 4 (обычно это уголковый отражатель, триппель-призма), отражается и возвращается на светоделитель 2, откуда направляется в фотоприемник 1.
В точке приема 1 две волны встречаются. Если разность их хода кратна длине волны, они усиливают друг друга (светло). Если разность составляет полволны — они гасят друг друга (темно). При движении объекта 4 через фотоприемник «бегут» интерференционные полосы.
Счетчик 5 подсчитывает количество импульсов \(k\) (прошедших полос). Перемещение \(x\) рассчитывается по фундаментальной формуле:
Где \(\lambda\) — длина волны лазера (обычно гелий-неоновый лазер, \(\approx 0.63\) мкм). Деление на 2 обусловлено тем, что свет проходит расстояние до объекта и обратно.

Рисунок 6. Установка: Лазерный интерферометр
7. Лазерные дальномеры: измерение больших расстояний
Если интерферометры работают на микроуровне, то для строительных и геодезических задач (сотни метров) применяют лазерные дальномеры. Интерференция здесь не используется из-за потери когерентности на больших дистанциях.
- Импульсный метод: Измеряется время полета импульса света туда и обратно (\( t \)). Расстояние \( L = c \cdot t / 2 \), где \( c \) — скорость света.
- Фазовый метод: Измеряется сдвиг фаз модулированного сигнала. Этот метод точнее импульсного на коротких дистанциях.
8. Сравнительная характеристика методов измерения
| Тип прибора | Диапазон измерений | Точность (примерная) | Основное применение |
|---|---|---|---|
| Измерительный проектор | 100 — 300 мм | 10 — 50 мкм | Контроль профиля, резьбы, плоских деталей сложной формы |
| Инструментальный микроскоп | до 200х100 мм (УИМ больше) | 1 — 5 мкм | Высокоточные измерения малых деталей, углов, радиусов |
| Оптоэлектронные (Растр/Муар) | до нескольких метров | 0.5 — 5 мкм | Системы обратной связи станков с ЧПУ, длинномеры |
| Лазерный интерферометр | до 30 — 60 метров | 0.01 — 0.5 мкм | Калибровка станков, координатно-измерительных машин (КИМ), эталоны |
9. Преимущества и недостатки оптико-механических методов
Преимущества:
- Бесконтактность: Отсутствие износа измерительных наконечников и деформации мягких деталей (например, резиновых уплотнений).
- Высокая информативность: Возможность видеть профиль детали, дефекты поверхности и заусенцы.
- Высокая точность: Особенно при использовании интерференционных методов.
Недостатки:
- Сложность настройки: Требует квалифицированного персонала.
- Чувствительность к среде: Вибрации, пыль и температурные колебания сильно влияют на результат.
- Ограничения по геометрии: Трудно измерять внутренние скрытые полости (нужны сложные щупы или разрезы).
10. Интересные факты об оптических измерениях
- Критерий Аббе: Эрнст Аббе доказал, что для максимальной точности измерительная шкала и измеряемый объект должны находиться на одной оси. Нарушение этого правила ведет к ошибкам первого порядка.
- Длина волны: Красный свет гелий-неонового лазера (632,8 нм) является одним из самых стабильных эталонов длины в мире.
- Скорость света: Современное определение метра привязано не к «палке из платины», а к расстоянию, которое проходит свет в вакууме за 1/299792458 секунды.
- Ньютоновы кольца: Это первый интерференционный эффект, замеченный людьми. Если положить линзу на стекло, видны радужные кольца, по которым можно судить о кривизне линзы с нанометровой точностью.
- Человеческий глаз: Оптические приборы расширяют возможности глаза, но именно глаз оператора часто остается «слабым звеном» при использовании старых микроскопов без цифровых камер.
- Дифракция: Это главный враг оптической микроскопии. Она ограничивает разрешающую способность, не позволяя четко видеть объекты меньше половины длины световой волны.
- Рефрактометрия: В лазерных интерферометрах воздух работает как линза. Изменение температуры на 1°C меняет показания на 1 мкм на каждый метр длины.
11. FAQ: Часто задаваемые вопросы
1. Что точнее: инструментальный микроскоп или проектор?
Микроскоп почти всегда точнее. Проектор дает погрешность из-за размытия границ тени и дисторсии (искажения) объектива при увеличении. Микроскоп работает с прямым изображением и большим оптическим увеличением.
2. Нужно ли калибровать стеклянные линейки микроскопов?
Обязательно. Несмотря на то, что стекло термически стабильно, механические направляющие стола изнашиваются, теряя прямолинейность и перпендикулярность, что вносит ошибки в измерения.
3. Опасен ли лазер в интерферометре для глаз?
В большинстве промышленных интерферометров используются лазеры класса 2 (мощность < 1 мВт). Случайное попадание луча в глаз вызывает моргательный рефлекс и безопасно, но длительно смотреть в луч (например, через телескоп) запрещено.
4. Почему муаровые полосы движутся быстрее самих решеток?
Это эффект «рычага». Малый угол пересечения линий создает геометрическое условие, при котором точка пересечения линий перемещается гораздо быстрее, чем сами линии при поперечном сдвиге.
5. Можно ли использовать лазерный дальномер для измерения деталей машин?
Обычно нет. Обычные дальномеры имеют погрешность 1-2 мм, что недопустимо для машиностроения (где нужны допуски в 0.01 мм). Для машин нужны лазерные интерферометры или триангуляционные датчики.
Заключение
Оптико-механические средства измерений прошли путь от простых механических устройств до сложнейших лазерно-компьютерных комплексов. Несмотря на развитие цифровых технологий, классические принципы оптики и интерференции остаются фундаментом высокоточной метрологии. Понимание этих принципов необходимо любому современному инженеру для обеспечения качества продукции в эпоху микро- и нанотехнологий.
Нормативная база:
- ГОСТ 8.009-84: ГСИ. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений.
- ГОСТ 8074-82: Микроскопы инструментальные. Типы, основные параметры и размеры. Технические требования.
- ГОСТ Р 8.763-2011: ГСИ. Лазерные измерительные системы перемещений. Методика поверки.
Список литературы
- Марков Н.Н. «Метрологическое обеспечение в машиностроении».
- Севастьянов Б.Н. «Оптические методы измерений в приборостроении».
- Инструкции по эксплуатации приборов УИМ-23, БМИ-1.
